Conference Introduction

会议简介

在科技部和中国科学院指导下,从2010年开始苏州工业园区举办一年一届的“中国国际纳米技术产业博览会”(英文“CHInano Conference & Expo”, 以下称“纳博会”),目前已成功举办十二届,经过多年积累,中国国际纳米技术产业博览会已成为中国影响力最广的纳米技术交流盛会。胜科纳米(苏州)股份有限公司联合江苏省纳米技术产业创新中心,于2018年第九届纳博会开始,同期举办“纳博会分析测试应用研讨会”。四年来,分析检测论坛得到了企业、行业协会、高校及科研院所等单位的大力支持,四年累计吸引了1500余名半导体与集成电路领域的专业人士参会。

2022年“第五届纳博会分析测试应用研讨会”将围绕射频芯片、滤波器芯片、功率半导体等的测试分析,为半导体相关企业进行技术和案例的分享与研讨。今年我们将邀请多名国内外半导体领域的专家、学者、企业家、工程师分享相关的分析测试技术案例,探讨半导体分析检测技术发展应用趋势。

会议组织

主办单位

    • 胜科纳米(苏州)股份有限公司

合办单位

    • 江苏省纳米技术产业创新中心
    • 中国半导体行业协会MEMS分会


协办单位

    • 赛默飞世尔科技
    • 日立科学仪器有限公司
    • 蔡司中国
    • 高德英特(北京)科技有限公司
    • 爱斯佩克环境仪器(上海)有限公司
    • 仪器信息网

主要议题(往期回顾)

Agenda Arrangement(Previously Review)

2021议程安排(往期回顾)



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日期: 10 月 28 日

地点: B1会议室1

时间

演讲人

职位/机构及演讲主题

08:55-09:00

李晓旻

胜科纳米(苏州)股份有限公司董事长
开场及欢迎致辞

09:00-09:25

池保勇

清华大学微电子所副所长
集成电路技术的发展与创新

09:25-9:50

王宏宇

Bosch Sensortec 亚太区总裁
智能算法、嵌入式AI和MEMS传感器——日常生活中的“隐形”小明星

9:50-10:15

宋喆燮

三星半导体代工中国区总经理
代工解决方案:助力中国芯片设计的明天

10:15-10:30

茶歇

10:30-10:55

李召兵

北京知存科技有限公司副总
存算一体芯片

11:00-12:00

圆桌论坛

12:00-13:30

午餐

13:30-13:55

赖李龙

资深行业专家
集成电路及元器件失效分析和纳米尺度表征

13:55-14:20

陈耿

浙江睿熙科技有限公司经理
VCSEL 及其在消费电子、数通和车载领域的应用

14:20-14:45

华佑南

胜科纳米(新加坡)有限公司副总
晶圆制造中晶体管栅极氧化层新型失效分析技术的研究与应用

14:45-15:10

曹潇潇

赛默飞
助力良率提升及先进研发--赛默飞失效分析解决方案的新进展

15:10-15:30

茶歇

15:30-15:55

周鸥

日立科学仪器(北京)有限公司部长
日立电子显微镜系列产品在半导体行业的应用能力

15:55-16:20

黄承梁

卡尔蔡司(上海)管理有限公司经理
蔡司显微镜的半导体晶片级和封装级失效分析解决方案

16:20-16:45

鞠焕鑫

高德英特(北京)科技有限公司应用科学家
PHI表面分析技术(XPS/AES/TOF-SIMS)在产业中的应用

16:45-17:10

潘晨亮

爱斯佩克测试科技(上海)有限公司实验室负责人、试验部部长
可靠性测试在半导体领域的应用

17:10-17:30

抽奖活动

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